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我国碳化硅激光剥离技术实现重大突破,单片切割损耗降至75微米以下

作 者: 来自:2025年第7期"电力电子专栏" 阅读 238

近日,国家第三代半导体技术创新中心深圳平台(深圳平湖实验室)宣布在碳化硅衬底加工领域取得里程碑式进展。该团队自主研发的全自动化激光剥离系统,成功将碳化硅衬底单片切割损耗从传统工艺的280-300微米降至75微米以下,单片成本降低26%,技术水平达到国际先进。

在第三代半导体材料产业化进程中,碳化硅(SiC)衬底加工技术长期受制于高损耗、低效率的瓶颈。深圳平湖实验室聚焦SiC激光剥离新技术的研究与开发,旨在大幅降低碳化硅衬底的切割损耗,从而降低碳化硅衬底的成本,促进大尺寸SiC衬底规模化产业应用。

202412月,深圳平湖实验室新技术研究部实现了激光剥离单片总损耗≤120μm,单片切割时间30min,达到国内领先水平。