加速寿命试验及其在电子产品上的应用

Accelerated Life Testing and Application in Electronic Products

中国电子产品可靠性与环境试验研究所  王升鸿Wang Shenghong  丁成功Ding Chenggong

摘要：加速寿命试验是电子元器件可靠性试验中的一项重要的试验手段，采取加速寿命试验的主要目的是加快试验进度，为预测系统或设备的可靠度提供重要依据。本文简要介绍了三种加速寿命试验方案和加速寿命试验理论依据，详细介绍了温度和湿度应力条件下的加速寿命计算方法，为工程技术人员提供进行其它产品的加速寿命试验提供科学的参考依据。

关键词：恒定应力   加速寿命   加速因子   阿伦尼斯模型   电子产品

【中图分类号】TQ016.5+3【文献标识码】B  文章编号1606-5123（2019）