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世界领先的快速光谱辐射计。完全满足美国IESNA LM-79和中国GB/T 24824等标准要求。
        可实现LED的瞬态光学特性测量（脉冲测量）及稳态光学特性测量（直流测量）。
        国家863计划研究成果，获美国专利授权（专利号：US 7,978,324 B2），“国家首批自主创新产品”，“国家重点新产品”荣誉。